最新国产精品-17c在线视频-成人高清在线观看-一二三区av-亚洲欧洲天堂-www.久久色-麻豆人妻少妇精品无码专区-日本少妇大战黑人-嫩草影院在线视频-天天做天天爱天天做-亚洲欧美综合久久

撥號400-875-1717轉(zhuǎn)809
產(chǎn)品目錄
展開

你的位置:首頁 > 技術(shù)文章 > 原位XRD技術(shù)在鈣鈦礦太陽能電池形態(tài)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性研究中的應(yīng)用

技術(shù)文章

原位XRD技術(shù)在鈣鈦礦太陽能電池形態(tài)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性研究中的應(yīng)用

技術(shù)文章

一、研究背景


鈣鈦礦太陽能電池(PSCs)作為下一代光伏技術(shù)的有力候選者,因其可與硅基技術(shù)相媲美的高效率、低成本的溶液法制備工藝以及可調(diào)的透明度和顏色等優(yōu)勢而備受關(guān)注。其中,基于甲脒鉛溴(FAPbBr?)的鈣鈦礦材料因其寬帶隙(2.3–2.4 eV)和優(yōu)異的本征穩(wěn)定性,在建筑光伏一體化(BIPV)、疊層太陽能電池及半透明柔性器件等領(lǐng)域展現(xiàn)出獨(dú)特優(yōu)勢。
然而,盡管FAPbBr?相較于其碘化物 counterpart(FAPbI?)具有更好的抗降解能力,但長期穩(wěn)定性仍然是制約其商業(yè)化的關(guān)鍵瓶頸。鈣鈦礦材料的退化主要源于晶界處缺陷誘導(dǎo)的降解——水分子在晶界處吸附,觸發(fā)α相鈣鈦礦的結(jié)構(gòu)坍塌。研究發(fā)現(xiàn),通過表面鈍化處理在三維(3D)鈣鈦礦表面構(gòu)建二維(2D)Ruddlesden–Popper(RP)相層,可以有效保護(hù)活性層,提升器件穩(wěn)定性。
基于此,Paci等人系統(tǒng)研究了異戊基氯化銨(ISO)與新戊基氯化銨(NEO)混合處理對FAPbBr?太陽能電池界面鈍化效果的影響,重點(diǎn)關(guān)注2D鈍化層對3D鈣鈦礦相形態(tài)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性的保護(hù)機(jī)制。研究采用了獨(dú)特的原位XRD技術(shù),結(jié)合AFM形貌表征和光伏性能測試,揭示了2D/3D界面處缺陷誘導(dǎo)降解的微觀動力學(xué)過程。


二、原位XRD揭示的結(jié)構(gòu)演變規(guī)律


該研究對比了三種體系:(1)未封裝的中間層樣品 Glass/FTO/c-TiO?/SnO?/FAPbBr?;(2)完整參考器件 Glass/FTO/c-TiO?/SnO?/FAPbBr?/PTAA/ITO;(3)ISO-NEO鈍化器件及封裝后器件。原位XRD測量在連續(xù)冷光照明下進(jìn)行,每1小時采集一次衍射圖譜,持續(xù)至結(jié)構(gòu)參數(shù)趨于穩(wěn)定。
原位XRD技術(shù)在鈣鈦礦太陽能電池形態(tài)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性研究中的應(yīng)用
圖1. Glass/ FTO /c-TiO?/氧化錫/FAPbBr?中間體的 XRD 分析。(a)在冷光照射48小時期間隨時間變化采集的XRD圖譜序列,直至結(jié)構(gòu)參數(shù)可解析(左圖);(右圖)對比了不同時間點(diǎn)原位光照前(黑線)與光照過程中(藍(lán)線)采集的部分XRD圖譜, FTO 特征衍射峰標(biāo)有星號。
圖1顯示了中間層樣品在48小時光照期間的原位XRD時序圖譜。對(110)衍射峰進(jìn)行高斯擬合定量分析表明,F(xiàn)APbBr?的結(jié)晶度下降約40%,同時半高寬(FWHM)增大,對應(yīng)晶粒尺寸從68 nm減小至38 nm,兩者衰減時間常數(shù)分別約為20小時和18小時,較為一致。這表明結(jié)晶度損失主要通過晶粒細(xì)化實(shí)現(xiàn),且降解優(yōu)先發(fā)生在晶界區(qū)域。
原位XRD技術(shù)在鈣鈦礦太陽能電池形態(tài)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性研究中的應(yīng)用
圖2.Glass/ FTO /c-TiO?//FAPbBr?的AFM分析結(jié)果。
AFM結(jié)果(圖2)進(jìn)一步支持這一結(jié)論,光照后表面均方根粗糙度從18 nm增至32 nm。
原位XRD技術(shù)在鈣鈦礦太陽能電池形態(tài)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性研究中的應(yīng)用
圖3. Glass/ FTO /c-TiO?/氧化錫/FAPbBr?/ PTAA /ITO參考器件的 XRD 分析結(jié)果。(a)在冷光下持續(xù)照射48小時期間采集的 XRD 圖譜隨時間變化序列,直至結(jié)構(gòu)參數(shù)可測定(右圖);對比樣品在照射前(黑線)與不同時間點(diǎn)原位照射期間(藍(lán)線)的 XRD 圖譜。 FTO 特征反射峰均用星號標(biāo)注。
圖3為完整參考器件的測試結(jié)果。與中間層樣品相比,參考器件的結(jié)晶度損失減小至約15%,晶粒尺寸從53 nm降至45 nm,降解過程呈現(xiàn)明顯的誘導(dǎo)期。這說明PTAA空穴傳輸層和ITO電極中具有一定的物理屏障作用,但未能全抑制結(jié)構(gòu)退化。
原位XRD技術(shù)在鈣鈦礦太陽能電池形態(tài)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性研究中的應(yīng)用
圖4..ISO-NEO鈍化器件的原位XRD結(jié)果
圖4是ISO-NEO鈍化器件的原位XRD結(jié)果。在衍射圖譜中,除3D鈣鈦礦和FTO基底的特征峰外,在2θ=4.23°處出現(xiàn)歸屬于2D Ruddlesden–Popper相(040)晶面的衍射峰,表明ISO-NEO處理在鈣鈦礦表面形成了2D層。定量分析顯示:3D相的結(jié)晶度損失不足10%,晶粒尺寸變化很小;而2D相(040)結(jié)晶度損失約70%,但FWHM未見明顯變化。值得注意的是,2D相結(jié)晶度的顯著下降開始于光照約4小時后,滯后于3D相的變化。這一時序差異提示,2D相的結(jié)構(gòu)變化發(fā)生在與3D相的界面處,可能對應(yīng)缺陷密度較高的區(qū)域,2D相在局部發(fā)生晶態(tài)–非晶態(tài)轉(zhuǎn)變,從而減緩?fù)嘶蜮}鈦礦體相的擴(kuò)展。
原位XRD技術(shù)在鈣鈦礦太陽能電池形態(tài)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性研究中的應(yīng)用
圖5.ISO-NEO器件進(jìn)行了封裝處理溝原位XRD結(jié)果
為進(jìn)一步排除材料自身內(nèi)在退化因素,研究團(tuán)隊(duì)對ISO-NEO器件進(jìn)行了封裝處理并開展原位XRD測量(圖5)。結(jié)果表明,在42小時光照期間,(110)峰的結(jié)晶度和FWHM未呈現(xiàn)系統(tǒng)性變化趨勢,后續(xù)延續(xù)光照至10天的非原位XRD也證實(shí)結(jié)構(gòu)保持穩(wěn)定。這說明在該實(shí)驗(yàn)條件下,主要退化因素來自外部環(huán)境(如水分吸附),而非材料本身的固有性質(zhì)。


三、原位XRD技術(shù)的應(yīng)用價值


該研究展示了原位XRD在鈣鈦礦材料穩(wěn)定性研究中的幾個實(shí)用優(yōu)勢:


  • 動態(tài)監(jiān)測:能夠連續(xù)記錄晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)(峰強(qiáng)度、峰位、FWHM等)隨時間的變化,獲得降解過程的完整動力學(xué)曲線。
  • 多相同時分析:可同時追蹤3D鈣鈦礦和2D鈍化層的衍射信號,揭示不同相之間的時序關(guān)聯(lián)。
  • 定量評估:通過峰形擬合獲得結(jié)晶度和晶粒尺寸的數(shù)值變化,便于不同樣品間的定量比較。
  • 與性能關(guān)聯(lián):將結(jié)構(gòu)演變數(shù)據(jù)與器件光伏參數(shù)(J–V曲線)對照分析,有助于建立結(jié)構(gòu)退化與性能衰減之間的因果關(guān)系。


總體而言,原位XRD作為一種非破壞性的實(shí)時表征手段,能夠?yàn)殁}鈦礦太陽能電池的退化機(jī)理研究和穩(wěn)定性優(yōu)化策略提供較為客觀的實(shí)驗(yàn)依據(jù)。
原位XRD技術(shù)在鈣鈦礦太陽能電池形態(tài)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性研究中的應(yīng)用


由貝拓科學(xué)自主研發(fā)設(shè)計(jì)生產(chǎn)的臺式多晶X射線衍射儀BRAGG110,采用面陣型光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測器:擁有高靈敏的特性,可實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù),具有動態(tài)范圍大、雙閾值、抗強(qiáng)輻射長時照射、長壽命的特點(diǎn)。使用固定測角儀系統(tǒng) 包括靜止不動的 X 射線源和探測器;支持點(diǎn)線兩種球管焦斑模式。還支持多種數(shù)據(jù)采集模式,可以使用固定照相模式獲取 2D 衍射幀。


參考來源:
Paci B, Righi Riva F, Generosi A, et al. Enhancing the Morpho-Structural Stability of FAPbBr? Solar Cells via 2D Nanoscale Layer Passivation of the Perovskite Interface: An In-Situ XRD Study[J].Nanomaterials, 2025, 15(5): 327. DOI: 10.3390/nano15050327.




聯(lián)系我們

地址:廣州市黃埔區(qū)東眾路42號中集大灣區(qū)國際人才創(chuàng)業(yè)園B3棟20層 傳真: Email:marketing1@betops.com.cn
24小時在線客服,為您服務(wù)!

版權(quán)所有 © 2026 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司 備案號:粵ICP備16117500號 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 GoogleSitemap

服務(wù)熱線

400-875-1717轉(zhuǎn)809

返回頂部

點(diǎn)